SunScan綠植(zhi)冠層(ceng)(ceng)剖(pou)析儀一種(zhong)(zhong)借助簡(jian)接(jie)(jie)測(ce)(ce)(ce)定(ding)(ding)法探(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)葉(xie)占地面(mian)(mian)平均值（LAI）的(de)(de)(de)機器設備，使用(yong)給定(ding)(ding)造成地被植(zhi)物平面(mian)(mian)圖形有(you)效特點的(de)(de)(de)橢球(qiu)體葉(xie)夾角分散產(chan)品規(gui)格(ge)(ge)(ge)（ELADP），測(ce)(ce)(ce)定(ding)(ding)電子散射率(lv)有(you)LAI。于(yu)2005、2007年(nian)在哈爾濱(bin)市省嫩(nen)江縣鶴山良(liang)種(zhong)(zhong)場布(bu)設豆(dou)類(lei)種(zhong)(zhong)耐壓地，使用(yong)較為LI-3100葉(xie)占地面(mian)(mian)儀隨便測(ce)(ce)(ce)定(ding)(ding)的(de)(de)(de)LAI和SunScan冠層(ceng)(ceng)剖(pou)析儀簡(jian)接(jie)(jie)測(ce)(ce)(ce)定(ding)(ding)的(de)(de)(de)LAI，得出結(jie)論ELADP率(lv)定(ding)(ding)最(zui)后(hou)(hou)，并核(he)驗了SunScan冠層(ceng)(ceng)剖(pou)析儀測(ce)(ce)(ce)定(ding)(ding)LAI的(de)(de)(de)精密度。最(zui)后(hou)(hou)證明：用(yong)SunScan測(ce)(ce)(ce)定(ding)(ding)豆(dou)類(lei)種(zhong)(zhong)冠層(ceng)(ceng)LAI時(shi)，ELADP取數值4．0；快速(su)設置該(gai)產(chan)品規(gui)格(ge)(ge)(ge)后(hou)(hou)，SunScan測(ce)(ce)(ce)定(ding)(ding)的(de)(de)(de)LAI與(yu)LI-3100測(ce)(ce)(ce)定(ding)(ding)最(zui)后(hou)(hou)同樣，兩(liang)種(zhong)(zhong)鋼材(cai)曲(qu)線(xian)擬合的(de)(de)(de)線(xian)性網(wang)絡回歸模型方程式(shi)有(you)ඣ效；隨種(zhong)(zhong)植(zhi)季葉(xie)占地面(mian)(mian)的(de)(de)(de)變(bian)，SunScan測(ce)(ce)(ce)定(ding)(ding)確定(ding)(ding)計算誤差(cha)有(you)些許變(bian)；種(zhong)(zhong)植(zhi)后(hou)(hou)50～85d，Sun—Scan探(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)值值高7．2％，種(zhong)(zhong)植(zhi)96d后(hou)(hou)后(hou)(hou)探(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)值較高12．5％，種(zhong)(zhong)植(zhi)后(hou)(hou)85～96d與(yu)LI-3100探(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)值格(ge)(ge)(ge)外親(qin)近，確定(ding)(ding)計算誤差(cha)只剩下2．0％；經由產(chan)品規(gui)格(ge)(ge)(ge)率(lv)定(ding)(ding)后(hou)(hou)的(de)(de)(de)SunScan測(ce)(ce)(ce)定(ding)(ding)LAI功能更好。